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资料名称: DB13/T 5696-2023 基于高温反偏试验的GaN HEMT射频功率器件缺陷快速筛选方法
文件类型: PDF文档
文件大小: 586.11 KB
资料归类: 综合地方标准
整理时间: 2023-06-09
软件简介: 本文件规定了基于高温反偏试验的GaN HEMT射频功率器件缺陷快速筛选的筛选原理、筛选条件、筛选系统构成和要求、筛选方法和判据。
本文件适用于工业级GaN HEMT射频功率器件的快速筛选,GaN HEMT射频功率模块可参照使用。
下载地址: [百度网盘下载 ]
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