加入收藏 | 设为首页 | 会员中心 | 我要投稿 | RSS
您当前的位置：首页 > GB/T国家标准 > 其他标准
资料名称： GB/T 43087-2023 微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法 正式版
文件类型： PDF文档
文件大小： 12.06 MB
资料归类： 检验检测
整理时间： 2024-01-15
软件简介： 本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。
本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。
本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界面位置。

标准号：GB/T 43087-2023
标准名称：微束分析　分析电子显微术　层状材料截面像中界面位置的确定方法
英文名称：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-04-01

采用标准：ISO 20263:2017《微束分析　分析电子显微术　层状材料截面像中界面位置的确定方法》 MOD 修改采用

起草人：权茂华、柳得橹
起草单位：北京科技大学
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
下载地址： [百度网盘下载 ]
发表评论 共有条评论
用户名: 密码:
验证码: 匿名发表
推荐下载
最后更新
热门点击
站内搜索： 高级搜索
网站首页 | 关于我们 | 服务条款 | 广告服务 | 联系我们 | 网站地图 | 免责声明 | WAP
Powered by 360datas   © 360datas. 京ICP备06036635号-5