标准编号：GB/T 4937.3-2012
简体名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
繁体名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination

标准简介：
GT 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验，适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。